半导体存储器装置和包括半导体存储器装置的存储器系统
公开
摘要
一种半导体存储器装置包括存储器单元阵列、纠错码(ECC)电路以及控制ECC电路的控制逻辑电路。存储器单元阵列包括存储器单元以及正常单元区域和奇偶校验单元区域。在正常模式下，ECC电路接收主数据，对主数据执行ECC编码以生成奇偶校验数据，并且将主数据和奇偶校验数据存储在正常单元区域和奇偶校验单元区域中。在测试模式下，ECC电路接收包括至少一个错误比特的测试数据，将测试数据存储在正常单元区域和奇偶校验单元区域之一中，并且对主数据和奇偶校验数据之一以及测试数据执行ECC解码以将解码结果数据提供给外部装置。
基本信息
专利标题 ：
半导体存储器装置和包括半导体存储器装置的存储器系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114388047A
申请号 ：
CN202111209052.6
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-10-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
安成基柳睿信孔骏镇李恩爱崔志显
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京天昊联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵南
优先权 ：
CN202111209052.6
主分类号 ：
G11C29/42
IPC分类号 ：
G11C29/42
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
G11C29/38
响应验证装置
G11C29/42
用纠错码或奇偶校验检查
法律状态
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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