基于改进YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测方法
实质审查的生效
摘要

本发明提出一种基于改进YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测方法。该方法包括:对原始的PCB数据集进行预理,建立YOLOv5算法的网络结构;根据GIoU确定YOLOV5网络损失函数和性能评价指标;改进了网络结构的处Neck部分,加入自适应特征融合(Adaptively Spatial Feature Fusion,ASFF),充分利用不同尺度的特征,增强小目标检测性能;改进了最终预测边界框的方法,利用目标框加权融合(Weighted Boxes Fusion,WBF)替代非极大值抑制(Non Maximum Suppression,NMS)作为选择最终预测的边界框的方法;根据改进的YOLOv5算法网络结构,利用迁移学习的思想对网络结构进行训练;将待检测PCB表面缺陷样本数据输入训练好的基于改进YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测模型,输出待检测PCB表面缺陷的位置和类别信息。经实例检测,本发明实现了PCB表面缺陷检测的高效和高精度的检测。

基本信息
专利标题 :
基于改进YOLOv5算法的PCB表面缺陷检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114372949A
申请号 :
CN202111244986.3
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2021-10-26
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
尚玉玲叶晓静侯杏娜韦淞译曾丽珍
申请人 :
桂林电子科技大学
申请人地址 :
广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路一号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202111244986.3
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06N3/08  G06V10/80  G06V10/774  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211026
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332