排除反光干扰的缺陷检测方法、电子设备及存储设备
实质审查的生效
摘要

本申请是关于一种排除反光干扰的缺陷检测方法。该方法包括:获取待测表面反光设备的表面反光图像;根据表面反光图像确定第一反光区域图像,第一反光区域图像中包含干扰性反光区域以及目标检测物的目标物反光区域;根据目标检测物的形状特征以及空间特征排除干扰性反光区域,得到目标物反光区域;根据目标物反光区域确定目标检测物是否存在缺陷,缺陷包括损坏缺陷以及缺失缺陷。本申请提供的方案,能够对表面反光设备的表面反光干扰进行消除,提高表面反光设备的检测效率以及检测准确度,提升产品质量。

基本信息
专利标题 :
排除反光干扰的缺陷检测方法、电子设备及存储设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114331954A
申请号 :
CN202111334149.X
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-11-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吴崇龙宋明岑王森森王开创
申请人 :
珠海格力智能装备有限公司;珠海格力电器股份有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市九洲大道中2097号珠海凌达压缩机有限公司1号厂房及办公楼
代理机构 :
广州市时代知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刁益帆
优先权 :
CN202111334149.X
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06N3/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-17 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211111
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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