半导体结构及其制备方法、存储器、存储系统、电子设备
实质审查的生效
摘要

本公开提供了一种半导体结构及其制备方法、存储器、存储系统、电子设备,涉及半导体芯片技术领域,以降低存储单元之间的相互干扰,提高器件性能。半导体结构包括堆叠层、以及贯穿堆叠层的第一隔离结构、第二隔离结构和沟道结构。堆叠层包括交替叠置的多个第一介质层和多个栅线层。第一隔离结构沿第一方向延伸,以将栅线层划分为多条栅线。第二隔离结构沿第一方向延伸,以将栅线分隔为至少两条子栅线;第二隔离结构的介电常数小于第一介质层的介电常数。至少部分沟道结构位于第二隔离结构所在的直线上,且第二隔离结构的两侧的子栅线分别与该沟道结构接触。上述半导体结构应用于存储器中,以实现数据的读取和写入操作。

基本信息
专利标题 :
半导体结构及其制备方法、存储器、存储系统、电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114420698A
申请号 :
CN202111584084.4
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
贾信磊韩佳茵徐盼杨琨靳磊
申请人 :
长江存储科技有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
代理机构 :
北京中博世达专利商标代理有限公司
代理人 :
申健
优先权 :
CN202111584084.4
主分类号 :
H01L27/1157
IPC分类号 :
H01L27/1157  H01L27/11582  H01L27/11575  H01L25/18  
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/1157
申请日 : 20211222
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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