一种检测系统的校准方法及装置
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种检测系统的校准方法及装置,提供一校准元件;校准方法包括:使多个光源沿不同的方向照射校准元件;通过成像装置分别采集每一个光源照射校准元件时的校准图像;基于校准图像获取校准系数,依据校准系数判断对应的光源的当前照射方向是否为目标照射方向;若否,根据校准系数调整对应的光源的照射方向。本发明通过使各个光源分别照射校准元件以得到校准图像,并基于校准图像获取校准系数,从而能够基于该校准系数以判断对应光源的照射方向是否符合要求,并在不符合要求时依据该校准系数进行相应调整;基于此,能够省去检测前对检测系统进行反复调试的工序,有效地简化了检测前的准备工序,进而提高了检测效率。

基本信息
专利标题 :
一种检测系统的校准方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264665A
申请号 :
CN202111584284.X
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
邹波陈宏燊王寅赫
申请人 :
东莞市沃德普自动化科技有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市南城区新基路的新基地科技创意园北区E栋第一层101室
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
俱玉云
优先权 :
CN202111584284.X
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20211222
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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