本发明公开了一种支持异构集成电路并行测试的系统和方法，包括ATE Host、Runtime、DUT和TIM，所述ATE包括Test Group，所述ATE Host与Runtime双向连接，所述Runtime与TIM双向连接，所述DUT包括BlockA和BlockB，所述DUT通过BlockA和BlockB与TIM对应连接。通过上述方法，测试工程师编写测试用例的时候，不需要关注TIM的资源，DUT数目，只需要合理描述Test Item的测试任务图即可，Runtime会根据实际资源进行合理调度，有效提高测试效率，通用的并行测试Item，对于不同数目和能力的TIM，DUT不需要修改测试程序即可实现动态的并行调度，通过设置的Runtime能够最大限度的实现TIM资源的高效利用，通过并行调度提高测试效率，能够实现一次测试程序创建，多种平台并行处理，提高测试程序编程效率。