一种半导体特性测试探针台线路整理机构
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体特性测试探针台线路整理机构,具体涉及半导体特性测试探针台技术领域,包括底板,所述底板的两端均连接有两个固定板,四个所述固定板的顶端均开有上下贯通的固定孔,所述底板的顶端两侧均连接有升降装置,两个所述升降装置的顶端共同连接有调节支撑装置,所述调节支撑装置的顶端一侧连接有限位板,所述限位板的顶端开有多个弧形限位槽,所述调节支撑装置的顶端另一侧连接有整理装置。本实用新型能够对探针台的多个线路进行稳定的限位和整理,使得整个机构的实用性更高,并且该机构也便于对多个线路的不同位置处进行整理和限位,而在升降装置的作用下,可使整个机构便于进行高度位置的调整。
基本信息
专利标题 :
一种半导体特性测试探针台线路整理机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122188261.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-09-10
授权号 :
CN216485180U
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
金玄
申请人 :
苏州金凤明电子技术有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴江区松陵镇长安路3099号南楼2201-11室
代理机构 :
宿迁市永泰睿博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘慧
优先权 :
CN202122188261.9
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-05-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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