一种用于量子芯片通断与约瑟夫森结常温电阻的测试电路
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于量子芯片通断与约瑟夫森结常温电阻的测试电路，属于器件检测技术领域，要解决的技术问题为如何对制备完成的量子计算芯片的优劣进行初步筛查，对制备的约瑟夫森结性能进行估算。包括：驱动电源，所述驱动电源用于提供直流驱动电源；限流电阻，所述限流电阻的第一端与驱动电流的正极电连接；测量电阻，所述测量电阻的第一端与所述限流电阻的第二端电连接，所述测量电阻的第二端与所述驱动电流的负极电连接，所述测量电阻用于通过与待测样品并联。
基本信息
专利标题 ：
一种用于量子芯片通断与约瑟夫森结常温电阻的测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122254503.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-17
授权号 ：
CN216646646U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
齐在栋刘强刘幼航
申请人 ：
浪潮集团有限公司
申请人地址 ：
山东省济南市高新区浪潮路1036号
代理机构 ：
济南信达专利事务所有限公司
代理人 ：
潘悦梅
优先权 ：
CN202122254503.X
主分类号 ：
G01R27/14
IPC分类号 ：
G01R27/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/14
通过测量从一基准源所得到的电流或电压来测量电阻值
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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