一种精密电子工程用检测精准度高的芯片检测仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种精密电子工程用检测精准度高的芯片检测仪,包括箱体,所述箱体的内腔底部左侧固定安装有电动推杆,所述箱体的内腔左侧活动连接有定位块,所述定位块的表面活动连接有活动板。本实用新型通过安装板将芯片进行放置后,通过PLC控制器启动电动推杆工作,通过电动推杆带动固定块进行移动,通过固定块带动卡槽进行移动,通过卡槽带动活动板进行偏移,通过活动板带动夹板进行移动,解决了现有的电子工程在工作的过程中需要对芯片进行检测,目前的芯片检测仪无法快速对芯片进行定位,需要人工手动调节芯片的位置才可进行正常的检测工作,这种方式工作效率较低,不方便工作人员进行大批量检测的问题。
基本信息
专利标题 :
一种精密电子工程用检测精准度高的芯片检测仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122310357.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-09-24
授权号 :
CN216485355U
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
梁靖静
申请人 :
深圳市源仪电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道高峰社区科伦特低碳产业园C栋4层402
代理机构 :
安徽盟友知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
周荣
优先权 :
CN202122310357.8
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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