本实用新型公开了一种芯片生产用静态功能测试设备，包括防护框架，所述防护框架的底部设有滚轮，所述滚轮的一侧设有固定片，所述防护框架的顶部设有三色灯，所述防护框架的一侧设有防护门，所述防护框架的内部设有载板，所述载板与防护框架之间设有下压气缸，所述载板的四角均设有立柱，所述载板的底部设有测试工装，所述测试工装的下方设有产品托盘，所述产品托盘的底部设有线体，所述产品托盘的两侧设有限位块。本实用新型利用限位块能够对产品托盘和产品进行精准定位，通过下压气缸使得测试工装下降，利用测试工装中的测试夹爪和夹爪气缸能够将测试工装与产品相接触，从而实现精准接触，防止测试出现较大误差，同时也保护了产品。