一种芯片不良检测定位设备
授权
摘要
本实用新型揭示了一种芯片不良检测定位设备，与微控制单元芯片相适配、用于实现微控制单元芯片的全脚位检测，设备由相匹配的夹具板及检测板构成；夹具板与微控制单元芯片相对应，夹具板上设置有脚位连接端口以及与脚位连接端口逐一匹配对应的排针；检测板上设置有排母，通过排针与排母间的配合、夹具板与检测板之间实现电性连接，检测板上还设置有用于显示脚位状态的LED显示灯珠矩阵，灯珠矩阵内每颗LED灯珠均与排母上的一个脚位匹配对应。本实用新型实现了对于微控制单元芯片的全脚位检测，检测过程对于人工的依赖程度较低，检测效率高，可有效帮助芯片厂商实现降本增效。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片不良检测定位设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122712492.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-08
授权号 ：
CN216361856U
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
张学昕
申请人 ：
宜宾芯汇信息科技有限公司
申请人地址 ：
四川省宜宾市翠屏区智能终端产业园A区1栋4楼
代理机构 ：
南京苏科专利代理有限责任公司
代理人 ：
姚姣阳
优先权 ：
CN202122712492.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G05B19/042
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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