本实用新型公开了一种双工位芯片检测机器，涉及芯片检测技术领域，在工作平台的顶端分别安装有一号取料工位和二号取料工位，在工作平台的顶端且位于一号取料工位和二号取料工位之间分别设置有合格品料盒和不合格品料盒，在工作平台的顶端且位于二号取料工位的后侧固定安装有支撑架，支撑架的顶部前侧分别固定安装有CCD相机、检测探针、合格品夹具、不合格品夹具，该检测机器按照中心对称的布局，分别设置有一号取料工位和二号取料工位，在实际使用时，两个取料工位交替取料和送料，互不影响，加快了芯片检测过程中的速度，提高了检测效率，并且两个取料工位上均设置有用于调整芯片摆放位置的结构，便于芯片检测工作的进行。