一种一体式多工位芯片检测装置
授权
摘要
本实用新型属于芯片检测技术领域，尤其为一种一体式多工位芯片检测装置，包括检测机本体、减速电机、安装板和上料板，所述检测机本体内壁可拆卸连接有所述减速电机，所述减速电机与外部PLC控制器信号连接，所述减速电机输出端伸出所述检测机本体，所述减速电机输出端可拆卸连接有连接板，所述连接板顶部可拆卸连接有四个对称分布的所述安装板；能够在上料板上的挡环内放置待测的LED芯片，然后将上料板与安装板进行连接，在检测机本体检测好一个上料板上的LED芯片时外部的PLC控制器就会控制减速电机转动，从而带动另一个装有待测LED芯片的上料板移动到检测机本体检测头下方进行检测，便于人们使用增加了操作人员的工作效率。
基本信息
专利标题 ：
一种一体式多工位芯片检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021794009.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-25
授权号 ：
CN213482377U
授权日 ：
2021-06-18
发明人 ：
杨良春赵永峰
申请人 ：
安徽信诺达微电子有限公司
申请人地址 ：
安徽省蚌埠市财院路10号214所内（科研综合楼）2层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021794009.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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