一种压敏电阻芯片的快速测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种压敏电阻芯片的快速测试装置，包括压敏电阻测试仪、第一测试线和第二测试线，第一测试线和第二测试线各有一端插接在压敏电阻测试仪相应的测试孔中，其特征在于：还包括绝缘支撑平台、导电板和测试笔，导电板安装在绝缘支撑平台的上表面上，导电板与第一测试线另一端电连接，测试笔包括绝缘笔杆和导电笔尖，导电笔尖与第二测试线另一端电连接。这种压敏电阻芯片的快速测试装置操作方便，能够对多个压敏电阻进行快速测试，加快了测试人员的测试速度，提高生产效率，降低劳动强度，适用于压敏电阻芯片的大批量测试。
基本信息
专利标题 ：
一种压敏电阻芯片的快速测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122974796.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-30
授权号 ：
CN216351005U
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
牛继恩王茂娟肖文华李慧
申请人 ：
汕头市瑞升电子有限公司
申请人地址 ：
广东省汕头市潮汕路月华工业区绿航大厦第1-6层
代理机构 ：
汕头市潮睿专利事务有限公司
代理人 ：
谢泽如
优先权 ：
CN202122974796.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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