一种芯片测试用吸盘
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试用吸盘，包括吸盘主体和顶出环，吸盘主体的上端面设置有定位槽，定位槽的上端面中心设置有真空吸孔，定位槽的下端设置有滑槽，顶出环插入滑槽内与吸盘主体滑动连接，吸盘主体的侧端面设置有进气接头和吸气接头，吸气接头与真空吸孔贯通连接，进气接头与滑槽的下端面贯通连接，定位槽的侧端面设置有四十五度的向内拔模角度。本实用新型在定位槽的底部设置滑动连接顶出环，通过向顶出环的下端吹气增压，使顶出环将芯片顶起，方便芯片取出，从而大大提升了检测效率，通过紧密连接向内拔模的定位槽结构，方便芯片安装的同时，提升了整体结构的紧凑性，降低了吸盘的生产成本，提升了检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试用吸盘
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123134525.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-14
授权号 ：
CN216434293U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
曾丹萍秦超强
申请人 ：
深圳市海芯微迅半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区龙岗街道龙西社区楼吓牌坊南面工业园厂房6栋3层
代理机构 ：
广东奥益专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
田树杰
优先权 ：
CN202123134525.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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