一种阵列基板检测设备
授权
摘要
本实用新型实施例公开了一种阵列基板检测设备,该设备包括:包括液晶盒模拟单元,液晶盒模拟单元朝向待检测阵列基板的一侧表面设置有至少一圈第一压力气槽和至少一圈第二压力气槽,第一压力气槽中的气压大于第二压力气槽中的气压;第一压力气槽和第二压力气槽均为中心对称图形,且对称中心与所述液晶盒模拟单元的中心重合。当压力气槽某处发生堵塞时,整个检测设备水平度、检测设备与待检测阵列基板的间隙大小及均匀性几乎不受影响,进而不影响检测结果,本实用新型实施例提供的阵列基板检测设备,既能够降低检测异常发生率,提升检测设备的使用寿命,还能提升阵列基板产品检测效率,更好的应对高阶产品需求。
基本信息
专利标题 :
一种阵列基板检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123299103.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-24
授权号 :
CN216526650U
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
汪杰
申请人 :
昆山龙腾光电股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山开发区龙腾路1号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
郭德霞
优先权 :
CN202123299103.7
主分类号 :
G02F1/1362
IPC分类号 :
G02F1/1362 G02F1/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的,例如单位液晶显示单元
G02F1/133
构造上的设备;液晶单元的工作;电路装置
G02F1/136
结构上与一半导体层或基片相结合的液晶单元,例如形成集成电路部分的液晶单元
G02F1/1362
有源矩阵寻址单元
法律状态
2022-05-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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