基于光电子集成芯片的荧光成像装置及其制备方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种基于光电子集成芯片的荧光成像装置及其制备方法。所述基于光电子集成芯片的荧光成像装置包括:样品台;氮化镓光电子集成芯片,位于所述样品台上方,包括透明衬底、位于所述透明衬底朝向所述样品台一侧的透明LED器件、以及位于所述透明衬底背离所述样品台一侧的滤光器件,所述透明LED器件用于向所述样品台方向发射具有第一波长的发射光信号,所述滤光器件用于仅透过具有第二波长的激发荧光信号,所述第二波长大于所述第一波长;透镜,位于所述氮化镓光电子集成芯片上方;相机,位于所述透镜上方。本发明简化了荧光成像过程中的光路结构,缩小荧光成像装置的体积,简化荧光成像装置的制作流程。

基本信息
专利标题 :
基于光电子集成芯片的荧光成像装置及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114354557A
申请号 :
CN202210004721.4
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
蒋元王永进高绪敏石帆严嘉彬秦飞飞
申请人 :
南京邮电大学
申请人地址 :
江苏省南京市文苑路9号
代理机构 :
上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈丽丽
优先权 :
CN202210004721.4
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20220104
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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