测量器件OCV参数的电路及测试系统
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种测量器件OCV参数的电路及测试系统，其中，测量器件OCV参数的电路包括：数据延时模块、第一时钟延时模块、第二时钟延时模块、电平选择模块、数据选择模块和平衡寄存器，测试时钟信号分别提供给所述数据延时模块、所述第一时钟延时模块和所述第二时钟延时模块，最后经所述平衡寄存器输出第四数据信号。本申请通过比较所述第四数据信号和所述测试时钟信号的波形获取总的延时时间，并且通过采集第二时钟延时模块和数据选择模块输出的信号的波形(第一中间信号、第二中间信号的波形)分别获取第二时钟延时模块和数据选择模块的延时时间，从而通过计算能够获取待测量电路的时序偏差(OCV参数)。
基本信息
专利标题 ：
测量器件OCV参数的电路及测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460345A
申请号 ：
CN202210008468.X
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2022-01-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵锋周喆邵博闻徐佳斌
申请人 ：
上海华虹宏力半导体制造有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区祖冲之路1399号
代理机构 ：
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 ：
戴广志
优先权 ：
CN202210008468.X
主分类号 ：
G01R15/12
IPC分类号 ：
G01R15/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R15/12
•用于多功能测试器的电路，例如按需要测量电压、电流或阻抗
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 15/12
申请日 : 20220106
申请日 : 20220106
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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