一种微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测方法、系统及装置
公开
摘要
本发明提出一种微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测方法，包括：获取微电子玻璃绝缘端子的待检测区域，并将待检测区域划分为若干个扇区；提取扇区的内部特征以及扇区的邻域特征；将扇区的内部特征和扇区的邻域特征进行拼接，将拼接结果输入分类器，分类器输出微电子玻璃绝缘端子封装的缺陷位置检测结果。将微电子玻璃绝缘端子封装的待检测区域划分为若干个扇区，分区处理相较于采用全局均值滤波对图像进行处理的方法，能够更好地表征玻璃封装的局部差异。另外，对划分的扇区及其邻域信息进行特征提取，获得扇区的多维度特征，可以更好地表征扇区的正常区域和缺陷区域，增加两者地对比度，进一步提高微电子玻璃绝缘端子封装缺陷的检测准确率。
基本信息
专利标题 ：
一种微电子玻璃绝缘端子封装缺陷检测方法、系统及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114581373A
申请号 ：
CN202210086914.9
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-01-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
蔡念李炜博张承滨燕舒乐陈凯琼王晗
申请人 ：
广东工业大学
申请人地址 ：
广东省广州市越秀区东风东路729号
代理机构 ：
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 ：
禹小明
优先权 ：
CN202210086914.9
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/11 G06T7/155 G06T7/187 G06V10/764 G06V10/82 G06K9/62 G06N5/00 G06N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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