一种基于机器视觉的光学元件位姿辅助标定方法及标定系统
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种基于机器视觉的光学元件位姿辅助标定方法,涉及光学元件检测技术领域,在光学元件附近设置数个固定标记物,使用成像设备将固定标记物、光学元件、以及随机标记物同时成像于像面,根据已知的固定标记物相对于光学元件的位姿,以及像面上固定标记物的坐标,结合随机标记物与固定标记物在像面上的位姿关系,解算随机标记物相对于光学元件的位姿关系,完成随机标记物的识别及坐标提取。本发明还提供一种实现上述方法的基于机器视觉的光学元件位姿辅助标定系统。本发明的方法避免了传统的人工使用测头打点操作,大大提高了畸变校正的效率,同时降低了操作过程中的风险系数,为光学元件的高效高质量制造提供了一定的保障。

基本信息
专利标题 :
一种基于机器视觉的光学元件位姿辅助标定方法及标定系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114543670A
申请号 :
CN202210105760.3
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-01-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
戚二辉胡海翔陶小平刘振宇曾雪锋罗霄
申请人 :
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 :
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 :
深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘建伟
优先权 :
CN202210105760.3
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20220128
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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