适用于IGBT器件的高温特性参数量产测试方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种测试方法，尤其是一种适用于IGBT器件的高温特性参数量产测试方法。在高温量产测试时，先选择一IGBT器件作为IGBT器件样品，通过对IGBT器件样品测试的参数校准测试，以能得到量产测试基准电压VCEJZ、量产测试基准电压VGEJZ以及量产测试基准脉冲宽度TpJZ，并将量产测试基准电压VCEJZ、量产测试基准电压VGEJZ以及量产测试基准脉冲宽度TpJZ作为默认测试条件对其他IGBT器件直接进行高温量产测试，量产测试基准脉冲宽度TpJZ和延迟时间Tdelay都不超过毫秒级，测试速度快，提高测试效率；通过IGBT器件自身导通功耗对当前的IGBT器件进行加热，量产测试时无需通过恒温加热台或者恒温加热底座进行加热，节省能耗和成本。
基本信息
专利标题 ：
适用于IGBT器件的高温特性参数量产测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114487756A
申请号 ：
CN202210128593.4
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-02-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴凯张广银杨飞任雨朱阳军
申请人 ：
南京芯长征科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市苏源大道19号九龙湖国际企业总部园A2座（江宁开发区）
代理机构 ：
苏州国诚专利代理有限公司
代理人 ：
韩凤
优先权 ：
CN202210128593.4
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20220211
申请日 : 20220211
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
