一种叠层封装用推拉力测试装置
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种叠层封装用推拉力测试装置，属于芯片测试设备，其包括底座，所述底座上设有用于推拉芯片的机架，所述底座上设有在平面内移动的工作台，所述工作台上方设有压板，所述压板上开设有朝向所述机架的工作口，所述压板与所述工作台之间设有供芯片移动的通道，所述通道内设有用于夹紧并移动芯片的夹持机构。本申请具有便于更换芯片，提高芯片的检测效率的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种叠层封装用推拉力测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114486508A
申请号 ：
CN202210138754.8
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-02-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴文明周钦
申请人 ：
深圳市比创达电子科技有限公司;南阳比创微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区坂田街道发达路云里智能园7栋1楼01室
代理机构 ：
北京维正专利代理有限公司
代理人 ：
谢明晖
优先权 ：
CN202210138754.8
主分类号 ：
G01N3/04
IPC分类号 ：
G01N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/02
零部件
G01N3/04
夹具
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 3/04
申请日 : 20220215
申请日 : 20220215
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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