一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置
公开
摘要
本发明公开了一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置，涉及器件的特性扫描技术领域，包括扫描箱，所述扫描箱的两侧分别开设有抽拉槽，所述抽拉槽的内腔套设有抽拉板。该低温超导量子干涉器件的特性扫描装置，通过在抽拉板上开设两个放置槽，当一个低温超导量子干涉器件本体安装在放置槽的内腔放入到扫描箱的内腔进行检测时，抽拉板上的另一个放置槽位于扫描箱的外部，对位于外部上的低温超导量子干涉器件本体进行更换，保证特性扫描的连续性，避免了传统的低温超导量子干涉器件特性扫描装置对低温超导量子干涉器件本体进行安装和拆卸浪费时间的问题，提高了该低温超导量子干涉器件的特性扫描装置的工作效率。
基本信息
专利标题 ：
一种低温超导量子干涉器件的特性扫描装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563751A
申请号 ：
CN202210198026.6
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-03-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
史建新沈姗姗
申请人 ：
南京工业职业技术大学
申请人地址 ：
江苏省南京市仙林大学城羊山北路1号
代理机构 ：
武汉菲翔知识产权代理有限公司
代理人 ：
张红
优先权 ：
CN202210198026.6
主分类号 ：
G01R35/00
IPC分类号 ：
G01R35/00 G01R33/035
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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