光器件的三温测试系统
实质审查的生效
摘要
本申请实施例提供了一种光器件的三温测试系统，通过对测试分区的控温过程和对测试分区的待测光器件测试过程循环同步，减少了测试分区的中间等待控温过程，并且通过温控仪表和温度传感器对测试分区的温度进行精准控制，极大提高了控温效率，从而提高了光器件的测试效率。
基本信息
专利标题 ：
光器件的三温测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114323568A
申请号 ：
CN202210244657.7
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2022-03-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
马超唐朋黄秋元周鹏
申请人 ：
武汉普赛斯电子技术有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力节能环保产业园9栋4楼
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
何志军
优先权 ：
CN202210244657.7
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G01K13/00 G05D23/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/00
申请日 : 20220314
申请日 : 20220314
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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