用于调准激光扫描荧光显微镜的方法和具有自动调准设备的激光...
公开
摘要
为了调节激光扫描荧光显微镜(15)的正确调准，在所述正确调准中激励光(6)的最大强度(1)和荧光阻止光(7)的最小强度(4)和/或布置在荧光探测器(18)前的光阑(2)的成像在镜头(20)的焦点中重合，以所述激励光(6)的最大强度(1)扫描样品(22)中的以荧光着色剂标记的结构，以便产生所述样品(22)的图像(A、B)，所述图像具有所述结构的影像(3，30，31，32)，并且由在所述图像中所述结构的所述影像(3，30，31，32)计算和补偿在所产生的图像中所述结构的成像的位置之间的错位(8)。在此，所产生的图像相应于所述荧光阻止光(7)的不同强度和/或所述光阑(2)的不同光阑开口。
基本信息
专利标题 ：
用于调准激光扫描荧光显微镜的方法和具有自动调准设备的激光扫描荧光显微镜
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114594074A
申请号 ：
CN202210330027.1
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2017-09-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
J·海涅M·罗伊斯B·哈尔克L·卡斯特鲁普
申请人 ：
阿贝里奥仪器有限责任公司
申请人地址 ：
德国哥廷根
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
郭毅
优先权 ：
CN202210330027.1
主分类号 ：
G01N21/63
IPC分类号 ：
G01N21/63 G01N21/64 G02B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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