一种高时空分辨率全场热释放率测量方法和系统
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种高时空分辨率全场热释放率测量方法和系统,涉及光学测量技术领域,包括:获取测量装置中的背景图案在照明光源照射下的参考图像;将待测火焰设置于背景图案与成像装置之间的位置,并获取背景图案和待测火焰在照明光源照射下的稳态测量图像;对待测火焰施加来流速度扰动,并获取在照明光源照射下的多个扰动测量图像;计算稳态测量图像与参考图像之间的第一图案偏移量;计算多个扰动测量图像与参考图像之间的多个第二图案偏移量;基于第一图案偏移量和多个第二图案偏移量,计算待测火焰的全场热释放率脉动结果。本发明缓解了现有技术中存在的因测量条件限制而导致热释放率测量分辨率不足的技术问题。
基本信息
专利标题 :
一种高时空分辨率全场热释放率测量方法和系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114459609A
申请号 :
CN202210376818.8
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2022-04-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨立军李敬轩张玥梁炫烨徐旭宋艳田雨
申请人 :
北京航空航天大学
申请人地址 :
北京市海淀区学院路37号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张萍
优先权 :
CN202210376818.8
主分类号 :
G01J5/20
IPC分类号 :
G01J5/20 G01J5/48 G01K17/00 G01M15/14 G01N25/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/10
用电辐射检测器
G01J5/20
用对辐射敏感的电阻器,热敏电阻器或半导体
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/20
申请日 : 20220412
申请日 : 20220412
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载