基于光开关阵列的光谱测量方法及装置
公开
摘要
本发明公开了一种基于光开关阵列的光谱测量方法，将一组整形参数各不相同的宽谱整形单元设置为多级结构，多级结构的每一级均包含复数个宽谱整形单元；利用多级光开光阵列从所述多级结构的每一级中同时选通一个宽谱整形单元，使得所选通的多个宽谱整形单元级联组合为一个宽谱整形器件；通过调整多级光开光阵列的选通方式得到一系列输出函数各不相同的宽谱整形器件，并利用这一系列宽谱整形器件对待测光信号分别进行全局采样；根据所得到的一系列全局采样结果重建出待测光谱。本发明还公开了一种基于光开关阵列的光谱测量装置。相比现有技术，本发明无需分光，不引入额外的分光损耗，可大幅提升系统信噪比和测量动态区间。
基本信息
专利标题 ：
基于光开关阵列的光谱测量方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563086A
申请号 ：
CN202210456113.7
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-04-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李昂蔡宇翔倪博洋
申请人 ：
南京航空航天大学
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区将军大道29号
代理机构 ：
北京德崇智捷知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨楠
优先权 ：
CN202210456113.7
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J3/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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