在频域内测量有机半导体载流子迁移率的方法
专利权的终止
摘要
在频域内测量有机半导体载流子迁移率的方法，制作一种符号载流子的发光寿命很短的(10－8s)有机发光薄层为探测层，利用发光层发光亮度随激发频率的变化，测量传输相反符号的有机半导体材料的载流子迁移率。激发源可用交流正弦、脉冲或方波电压，测量时频率从高到低，把不同频率下发光的数据连接，其延伸线与频率轴的交点f0即相应载流子穿过待测样品所用的时间，按μ=(d2/tv)(cm2/s.v)可导出迁移率μ，其中d是层厚，t为相应于f0的半周长，V是跨越待测层的电位降。和现用的飞行时间测量方法相比，它比较简单、准确度高，避免光激发进深样品厚度的不确定性。
基本信息
专利标题 ：
在频域内测量有机半导体载流子迁移率的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1763554A
申请号 ：
CN200510086781.1
公开（公告）日 ：
2006-04-26
申请日 ：
2005-11-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
徐征张福俊赵谡玲徐叙瑢
申请人 ：
北京交通大学
申请人地址 ：
100044北京市海淀区西直门外上园村3号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN200510086781.1
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 H01L21/66 G01N21/00 G01N27/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2014-12-24 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101592566729
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2005100867811
申请日 : 20051104
授权公告日 : 20080130
终止日期 : 20131104
号牌文件序号 : 101592566729
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2005100867811
申请日 : 20051104
授权公告日 : 20080130
终止日期 : 20131104
2009-12-30 ：
专利实施许可合同的备案
合同备案号 : 2009320001505
让与人 : 北京交通大学
受让人 : 江苏艾德太阳能科技有限公司
发明名称 : 在频域内测量有机半导体载流子迁移率的方法
申请日 : 20051104
授权公告日 : 20080130
许可种类 : 独占许可
备案日期 : 2009.8.12
合同履行期限 : 2009.7.5至2025.1.5合同变更
让与人 : 北京交通大学
受让人 : 江苏艾德太阳能科技有限公司
发明名称 : 在频域内测量有机半导体载流子迁移率的方法
申请日 : 20051104
授权公告日 : 20080130
许可种类 : 独占许可
备案日期 : 2009.8.12
合同履行期限 : 2009.7.5至2025.1.5合同变更
2009-10-28 ：
专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 北京交通大学
变更后权利人 : 江苏艾德太阳能科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 北京市海淀区西直门外上园村3号 邮编 : 100044
变更后 : 江苏徐州经济开发区蟠桃山路69号 邮编 : 221004
登记生效日 : 20090925
变更前权利人 : 北京交通大学
变更后权利人 : 江苏艾德太阳能科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 北京市海淀区西直门外上园村3号 邮编 : 100044
变更后 : 江苏徐州经济开发区蟠桃山路69号 邮编 : 221004
登记生效日 : 20090925
2008-01-30 ：
授权
2006-06-14 ：
实质审查的生效
2006-04-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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