用于探测测试接入点结构的扭曲固定探针的方法和装置

发明专利申请公布后的视为撤回

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摘要

本发明公开了一种用于在在线测试期间清除焊料珠状探测点表面上的氧化物、残留物或其他污染物，并探测印刷电路板上的焊料珠状探测点的扭曲固定探针。

基本信息

专利标题：

用于探测测试接入点结构的扭曲固定探针的方法和装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1766651A

申请号：

CN200510109585.1

公开（公告）日：

2006-05-03

申请日：

2005-10-26

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

肯尼思·P·帕克克里斯·R·雅各布森

申请人：

安捷伦科技有限公司

申请人地址：

美国加利福尼亚州

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司

代理人：

肖善强

优先权：

CN200510109585.1

主分类号：

G01R1/073

IPC分类号：

G01R1/073 G01R31/00 G01R31/28

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R1/00

包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件

G01R1/02

一般结构零部件

G01R1/06

测量引线；测量探针

G01R1/067

测量探针

G01R1/073

多个探针

法律状态

2011-02-16 ：

发明专利申请公布后的视为撤回

号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101068176842
IPC(主分类) : G01R 1/073
专利申请号 : 2005101095851
公开日 : 20060503

2007-12-19 ：

实质审查的生效

2006-05-03 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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1、

CN1766651A.PDF

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