成膜方法、成膜装置及存储介质
专利权的终止
摘要
本发明提供一种成膜方法,即使在具有纵横比大的凹部的被处理体的表面使用凝集性高的金属的情况下,也能够形成连续的薄膜。该方法包括以下工序,将基板搬入反应容器内并进行载置的工序;向反应容器内供给包括第一金属化合物的原料气体、并使该第一金属化合物吸附于基板表面的工序;使该第一金属化合物与活性化还原性气体而得到的还原用等离子体接触,而得到第一金属层的工序;以及,使溅射用等离子体接触至少表面部是由与第一金属不同的第二金属所构成的靶电极,将逸出的第二金属注入第一金属层,得到合金层的工序,进行一次以上的这些吸附、还原、及合金化的一系列的循环。利用该方法,即使是在第一金属的凝集力强的情况下也能够抑制基板的移动,形成连续的膜厚小的薄膜。
基本信息
专利标题 :
成膜方法、成膜装置及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101006199A
申请号 :
CN200580027616.7
公开(公告)日 :
2007-07-25
申请日 :
2005-11-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吉井直树小岛康彦
申请人 :
东京毅力科创株式会社
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
龙淳
优先权 :
CN200580027616.7
主分类号 :
C23C16/52
IPC分类号 :
C23C16/52 C23C14/14 C23C14/34 C23C16/455 C23C28/02 H01L21/285 H01L21/3205 H01L23/52
相关图片
IPC结构图谱
C
C部——化学;冶金
C23
对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C
对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16/00
通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积工艺
C23C16/44
以镀覆方法为特征的
C23C16/52
镀覆工艺的控制或调整
法律状态
2014-01-29 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101565522222
IPC(主分类) : C23C 16/52
专利号 : ZL2005800276167
申请日 : 20051129
授权公告日 : 20090805
终止日期 : 20121129
号牌文件序号 : 101565522222
IPC(主分类) : C23C 16/52
专利号 : ZL2005800276167
申请日 : 20051129
授权公告日 : 20090805
终止日期 : 20121129
2009-08-05 :
授权
2007-09-19 :
实质审查的生效
2007-07-25 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN101006199A.PDF
PDF下载
2、
CN100523293C.PDF
PDF下载