具有测试电路的随机存取存储器
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

一种存储电路,包括:存储器及与该存储器连接的第一测试电路。第一测试电路配置成:将从存储单元中读出的数据与所述存储单元的预期数据进行比较以产生存储单元的第一组通过/未过信号;将所述存储器的第一组通过/未过信号压缩成第二通过/未过信号;响应数据有效信号而锁存第二通过/未过信号;若第二通过/未过信号指示故障检测,则保持第二通过/未过信号之锁存;将第二通过/未过信号与第二测试电路的第三通过/未过信号组合而形成第四通过/未过信号,并将第四通过/未过信号传到第三测试电路。

基本信息
专利标题 :
具有测试电路的随机存取存储器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101080778A
申请号 :
CN200580042833.3
公开(公告)日 :
2007-11-28
申请日 :
2005-12-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
W·霍肯梅尔
申请人 :
奇梦达股份公司
申请人地址 :
德国慕尼黑
代理机构 :
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 :
余刚
优先权 :
CN200580042833.3
主分类号 :
G11C29/00
IPC分类号 :
G11C29/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2011-03-23 :
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101077080805
IPC(主分类) : G11C 29/00
专利申请号 : 2005800428333
公开日 : 20071128
2008-01-23 :
实质审查的生效
2007-11-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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