探针卡及其制造方法
专利权的终止
摘要
一种简化了制造过程并节省能量和材料的探针卡制造方法。提供了一种可以灵活应对端子间距减小、端子布置的变化、端子布置频繁改变的探针卡,以及这种探针卡的制造方法。此外,提供了在不需要为每次液体喷射进行烧结处理的情况下在短时间内形成要成为探针的精细凸块的探针卡制造方法。此外,提供了通过在探针卡与半导体芯片接触时展示出缓冲压力的效果而可以与半导体芯片均匀接触的探针卡,还提供制造该探针卡的方法。包含金属超精细微粒的液体材料通过精细喷墨方法喷射到衬底上并形成精细凸块。
基本信息
专利标题 :
探针卡及其制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101142487A
申请号 :
CN200580049139.4
公开(公告)日 :
2008-03-12
申请日 :
2005-12-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
村田和广
申请人 :
独立行政法人产业技术综合研究所
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 :
付建军
优先权 :
CN200580049139.4
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073 H01L21/66
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2019-11-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 1/073
申请日 : 20051209
授权公告日 : 20100526
终止日期 : 20181209
申请日 : 20051209
授权公告日 : 20100526
终止日期 : 20181209
2010-05-26 :
授权
2008-05-07 :
实质审查的生效
2008-03-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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