投影曝光装置中的同轴位置对准系统和对准方法
发明专利申请公布后的驳回
摘要
本发明公开了一种投影曝光装置中的同轴位置对准系统,设置于一个至少由光学投影系统、掩模版、承片台、曝光对象,以及部件运动控制系统组成的投影曝光装置上,其包括,以光学投影系统轴线为轴心均匀分布的不少于两个的位置对准装置、设置于掩模版上的掩模标记、设置于承片台上的承片台基准标记、设置于曝光对象上的曝光对象标记,所述的位置对准装置通过检测所述的掩模标记、基准标记、曝光对象标记的位置信息并传送给部件运动控制系统,以控制掩模版、承片台、曝光对象位置调整使其对准。本发明实现了掩模和曝光对象之间的高精度位置对准。
基本信息
专利标题 :
投影曝光装置中的同轴位置对准系统和对准方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1794095A
申请号 :
CN200610023153.3
公开(公告)日 :
2006-06-28
申请日 :
2006-01-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
徐兵王鹏程闫岩
申请人 :
上海微电子装备有限公司
申请人地址 :
201203上海市张江高科技园区张东路1525号
代理机构 :
上海智信专利代理有限公司
代理人 :
王洁
优先权 :
CN200610023153.3
主分类号 :
G03F7/20
IPC分类号 :
G03F7/20 H01L21/027
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F7/00
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
G03F7/20
曝光及其设备
法律状态
2011-11-23 :
发明专利申请公布后的驳回
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101215934582
IPC(主分类) : G03F 7/20
专利申请号 : 2006100231533
公开日 : 20060628
号牌文件序号 : 101215934582
IPC(主分类) : G03F 7/20
专利申请号 : 2006100231533
公开日 : 20060628
2006-08-23 :
实质审查的生效
2006-06-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载