等离子体处理装置及系统和边缘环的位置对准方法
公开
摘要

本发明提供能够将边缘环高精度地载置在基片支承台的等离子体处理装置及系统和边缘环的位置对准方法。等离子体处理装置包括支承基片和边缘环的基片支承台、使边缘环在上下方向上移动的升降机构和控制部,边缘环具有与该边缘环同心的孔,基片支承台包括:载置基片且向上方突出的凸部;环载置部,其在边缘环的孔中插入有凸部的状态下载置该边缘环;和对凸部的温度进行调节的温度调节机构,边缘环的孔与基片支承台的凸部具有俯视时彼此对应的形状,控制部控制升降机构和温度调节机构,以执行:使边缘环移动至规定位置而成为边缘环的孔中插入有基片支承台的凸部的状态的步骤;和移动步骤后,加热基片支承台的凸部而使其在径向上膨胀的步骤。

基本信息
专利标题 :
等离子体处理装置及系统和边缘环的位置对准方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114496706A
申请号 :
CN202111304403.1
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-11-05
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
北村真悟
申请人 :
东京毅力科创株式会社
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
北京尚诚知识产权代理有限公司
代理人 :
龙淳
优先权 :
CN202111304403.1
主分类号 :
H01J37/32
IPC分类号 :
H01J37/32  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J37/00
有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管,例如为了对其检验或加工的
H01J37/32
充气放电管
法律状态
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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