一种X射线衍射测角仪的样品台安装结构
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种X射线衍射测角仪的样品台安装结构,包括测角仪本体和样品台,测角仪本体上安装有测角仪主轴,所述测角仪主轴内套接一个中空轴,所述中空轴两端均伸出主轴之外,中空轴的一端固定安装样品台,中空轴的另一端通过固定板和测角仪本体固定连接。本实用新型将样品台安装在中空轴上,中空轴穿过测角仪的主轴,通过固定板与测角仪本体固定,这样就保证了样品台与测角仪的同心度,同时也提高了样品台的强度,便于安装调试和安装其他附件。
基本信息
专利标题 :
一种X射线衍射测角仪的样品台安装结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620158446.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-11-13
授权号 :
CN200968939Y
授权日 :
2007-10-31
发明人 :
樊后鸿张晓丽卢顺魁
申请人 :
北京普析科学仪器有限责任公司
申请人地址 :
100081北京市海淀区中关村南大街甲8号威地科技大厦
代理机构 :
北京市合德专利事务所
代理人 :
王文会
优先权 :
CN200620158446.8
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20 G01N1/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2016-12-28 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101693575386
IPC(主分类) : G01N 23/20
专利号 : ZL2006201584468
申请日 : 20061113
授权公告日 : 20071031
终止日期 : 无
号牌文件序号 : 101693575386
IPC(主分类) : G01N 23/20
专利号 : ZL2006201584468
申请日 : 20061113
授权公告日 : 20071031
终止日期 : 无
2009-04-29 :
专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 北京普析科学仪器有限责任公司
变更后权利人 : 北京普析通用仪器有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前 : 北京市海淀区中关村南大街甲8号威地科技大厦,邮编 : 100081
变更后 : 北京市平谷区平三路3号,邮编 : 101200
登记生效日 : 20090320
变更前权利人 : 北京普析科学仪器有限责任公司
变更后权利人 : 北京普析通用仪器有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前 : 北京市海淀区中关村南大街甲8号威地科技大厦,邮编 : 100081
变更后 : 北京市平谷区平三路3号,邮编 : 101200
登记生效日 : 20090320
2007-10-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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