二维位移传感器及应用的大量程表面形貌测量装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种二维位移传感器及应用的大量程表面形貌测量装置,它包括固定支架(1),在固定支架(1)上通过平行簧片(2)连接有可动支架(3),2个支架之间安装有水平位移传感器(11),可动支架(3)上安装杠杆(5),杠杆(5)的一端固定触针(6),杠杆(5)的另一端与可动支架(3)之间安装有垂直位移传感器(8)。本实用新型的主传感器测量触针垂直方向的位移的同时,辅助传感器可以检测出触针的水平偏移,使触针在每一个采样间隔中都能顺利地划过陡峭轮廓表面。具有能够使触针顺利划过陡峭轮廓表面,对各种复杂表面进行大量程和高精度测量,测量误差小等优点,适合于各种复杂表面轮廓的测量。

基本信息
专利标题 :
二维位移传感器及应用的大量程表面形貌测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620200959.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-11-23
授权号 :
CN201016702Y
授权日 :
2008-02-06
发明人 :
杨旭东王生怀李家春谢铁邦
申请人 :
贵州大学
申请人地址 :
550003贵州省贵阳市蔡家关贵州大学科技处
代理机构 :
贵阳中新专利商标事务所
代理人 :
郭防
优先权 :
CN200620200959.0
主分类号 :
G01B7/28
IPC分类号 :
G01B7/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/28
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2012-02-08 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101179909668
IPC(主分类) : G01B 7/28
专利号 : ZL2006202009590
申请日 : 20061123
授权公告日 : 20080206
终止日期 : 20101123
2008-02-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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