一种观察硅片表面的运动支撑机构
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要

本实用新型涉及一种观察硅片表面的运动支撑机构,其特征在于它包括一竖直设置的、由水平电机通过带动水平旋转的空心支柱,支柱的上下两端分别伸出有翼耳,在下端的翼耳上固定有一曲柄电机,曲柄电机的输出轴连接一曲柄盘,曲柄盘偏心处通过一转轴连接一空心联杆,支柱上端伸出的两翼耳间,枢接一吸盘摆柄,吸盘摆柄的前端枢接在联杆的顶部,吸盘摆柄的空腔内设置一自转电机,自转电机输出端连接一吸盘转轴,吸盘转轴伸出吸盘摆柄连接一吸盘,联杆、吸盘摆柄、吸盘转轴和吸盘上设置有相互连通的真空气道。吸盘在机构的各个电机带动下能够自转、公转、俯仰,形成三种复合球面运动,并且解决了俯仰抖动和大面积吸附问题,可以广泛得到推广和应用。

基本信息
专利标题 :
一种观察硅片表面的运动支撑机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820123234.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-24
授权号 :
CN201277952Y
授权日 :
2009-07-22
发明人 :
陈百捷徐伟新姚广军
申请人 :
陈百捷;北京自动化技术研究院
申请人地址 :
100176北京市亦庄经济开发区大雄郁金香20号楼B-102
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
徐 宁
优先权 :
CN200820123234.5
主分类号 :
G01N21/89
IPC分类号 :
G01N21/89  G01B11/06  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中,例如,纸张、织物中
法律状态
2010-01-27 :
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 20081024
2009-07-22 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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