曝光条件设定方法、衬底处理装置和计算机程序
专利权的终止
摘要

一种曝光条件设定方法、衬底处理装置和计算机程序,在具有被刻蚀层的测试衬底的该被刻蚀层上形成抗蚀剂膜,分别改变曝光量和聚焦值,以预定的测试图形对抗蚀剂膜的多个部位进行逐次曝光、显影,在上述多个部位形成抗蚀剂图形。然后,对被刻蚀膜进行刻蚀,剥离抗蚀剂图形,通过散射测量技术测定上述多个部位的被刻蚀膜的图形的形状,根据逐次曝光的曝光量以及聚焦值、抗蚀剂图形的线宽和刻蚀图形的线宽,决定为了得到所希望形状的刻蚀图形所允许的曝光量和聚焦值的组合的管理范围。

基本信息
专利标题 :
曝光条件设定方法、衬底处理装置和计算机程序
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101493656A
申请号 :
CN200910008166.7
公开(公告)日 :
2009-07-29
申请日 :
2005-11-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
泽井和夫园田明弘
申请人 :
东京毅力科创株式会社
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
刘宗杰
优先权 :
CN200910008166.7
主分类号 :
G03F7/20
IPC分类号 :
G03F7/20  H01L23/544  H01L21/027  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F7/00
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
G03F7/20
曝光及其设备
法律状态
2016-12-28 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101693560623
IPC(主分类) : G03F 7/20
专利号 : ZL2009100081667
申请日 : 20051108
授权公告日 : 20101208
终止日期 : 20151108
2010-12-08 :
授权
2009-09-23 :
实质审查的生效
2009-07-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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