导致表面缺陷的异常定位方法、装置、系统及电子设备
授权
摘要
本发明实施例提供了一种导致表面缺陷的异常定位方法、装置、系统及电子设备，导致表面缺陷的异常定位方法包括：获取待检测图像的缺陷检测结果，其中，缺陷检测结果包括待检测图像中的缺陷统计信息，待检测图像为图像采集设备拍摄的包括检测对象的图像；获取与缺陷统计信息匹配的待分析图像；对待分析图像进行检测分析，确定出与缺陷统计信息关联的异常信息，其中，异常信息包括异常位置信息。通过本方案，可以准确定位导致表面缺陷的异常。
基本信息
专利标题 ：
导致表面缺陷的异常定位方法、装置、系统及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110619620A
申请号 ：
CN201810564884.1
公开（公告）日 ：
2019-12-27
申请日 ：
2018-06-04
授权号 ：
CN110619620B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
陈佳伟
申请人 ：
杭州海康威视数字技术股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区阡陌路555号
代理机构 ：
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
马敬
优先权 ：
CN201810564884.1
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2020-01-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20180604
申请日 : 20180604
2019-12-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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