探针防误触方法、装置及系统
授权
摘要

本申请属于扫描成像技术领域,提供了一种探针防误触方法、装置及系统,所述方法包括:将测距仪的测距光斑和样品架调节至探针的针尖正下方第一测试距离处;控制样品架水平移动并通过测距仪随机对N个不在同一直线的检测点进行测距;若每一检测点对应的间距与第一测试距离的第一误差值均小于预设阈值,则将测距光斑和样品架调节至探针的针尖正下方第二测试距离处;根据预设扫描成像范围控制放置有样品的所述样品架移动,通过所述测距仪对若干预设的扫描点进行测距;若确定所述样品平整,则将所述测距光斑和所述样品架调节至所述探针的针尖正下方扫描距离处,以进行成像扫描。本申请实施例解决不能实时监测样品到探针的距离的问题。

基本信息
专利标题 :
探针防误触方法、装置及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110736715A
申请号 :
CN201911024547.4
公开(公告)日 :
2020-01-31
申请日 :
2019-10-25
授权号 :
CN110736715B
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
薛占强郭翠潘奕
申请人 :
深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司;华讯方舟科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东
代理机构 :
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 :
刘永康
优先权 :
CN201911024547.4
主分类号 :
G01N21/3581
IPC分类号 :
G01N21/3581  G01N21/01  G01B11/14  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3581
利用远红外光;利用太赫兹辐射
法律状态
2022-05-24 :
授权
2020-10-02 :
专利申请权、专利权的转移
专利申请权的转移IPC(主分类) : G01N 21/3581
登记生效日 : 20200914
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
变更后权利人 : 深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东
变更后权利人 : 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道宝田一路臣田工业区第37栋二楼东
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 华讯方舟科技有限公司
变更后权利人 : 深圳市重投华讯太赫兹科技有限公司
2020-02-25 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/3581
申请日 : 20191025
2020-01-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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