一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质
授权
摘要
本发明实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质,缺陷检测方法包括:根据待检测对象的超声穿透C扫描图像,确定待检测对象的缺陷区域;根据所述缺陷区域的缺陷性质,确定目标缺陷面积评定算法;根据所述目标缺陷面积评定算法,确定所述缺陷区域的面积。本发明实施例基于对待检测对象进行超声穿透得到C扫描图像,并通过C扫描图像确定待检测对象中的缺陷区域,根据缺陷区域的缺陷性质,采用相应的面积评定算法确定缺陷区域的面积信息。结合缺陷性质对缺陷面积进行确定提高了缺陷检测的准确率,并且通过相应的面积评定算法对缺陷面积进行检测减少了人工误检的概率。
基本信息
专利标题 :
一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112816556A
申请号 :
CN201911130012.5
公开(公告)日 :
2021-05-18
申请日 :
2019-11-18
授权号 :
CN112816556B
授权日 :
2022-04-01
发明人 :
肖鹏刘奎陈智超陈健南方孟嘉
申请人 :
中国商用飞机有限责任公司;上海飞机制造有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区世博大道1919号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
孟金喆
优先权 :
CN201911130012.5
主分类号 :
G01N29/11
IPC分类号 :
G01N29/11 G01N29/04 G01N29/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料;靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
G01N29/11
通过测量声波的衰减
法律状态
2022-04-01 :
授权
2021-06-04 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 29/11
申请日 : 20191118
申请日 : 20191118
2021-05-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载