一种薄膜厚度测量装置

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摘要

本实用新型涉及薄膜生产设备技术领域，尤其涉及一种薄膜厚度测量装置，包收纳箱，收纳箱外连接有测量机构，测量机构包括底座，所述底座的左侧设有第一支撑杆，第一支撑杆上设有导辊，底座的中间位置设有导向机构，导向机构上设有托举辊，托举辊的上方设有电子测厚仪，电子测厚仪通过支撑臂设在底座上，底座上位于横杆下方设有托举机构，底座的右侧设有卷绕辊，卷绕辊的一端连接有步进电机，本实用新型通过导向机构和托举机构实现了对横杆上升高度的精确控制，便于使用。

基本信息

专利标题：

一种薄膜厚度测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920454659.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-04-04

授权号：

CN209432048U

授权日：

2019-09-24

发明人：

申振锁周宏铎

申请人：

郑州新生印务有限公司

申请人地址：

河南省郑州市上街区龙江路9号

代理机构：

郑州隆盛专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

余菲

优先权：

CN201920454659.2

主分类号：

G01B7/06

IPC分类号：

G01B7/06