—种碲镉汞外延薄膜厚度精准测量装置

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摘要

本实用新型公开了测量设备技术领域的—种碲镉汞外延薄膜厚度精准测量装置，包括装置底座，所述装置底座的顶部固定连接有液压杆和控制开关，所述控制开关位于液压杆的右侧，所述液压杆的顶部固定连接有调节平台，所述调节平台的顶部固定连接有固定座，所述固定座的顶部固定连接有调节装置，所述调节装置包括有固定螺纹杆，所述固定螺纹杆的外表面通过螺纹活动连接有手轮，所述固定螺纹杆的外表面位于手轮上方活动连接有活动筒，所述活动筒的底部与手轮的顶部活动连接，该—种碲镉汞外延薄膜厚度精准测量装置，结构简单，操作方便，保证了测量过程的稳定性，提升了对碲镉汞外延薄膜厚度测量的精准性，具有较高的实用性。

基本信息

专利标题：

—种碲镉汞外延薄膜厚度精准测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022435337.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-10-28

授权号：

CN213397013U

授权日：

2021-06-08

发明人：

王家武杨定永张顺祥阿凤雄罗应强

申请人：

云南全控机电有限公司

申请人地址：

云南省昆明市中国(云南)自由贸易试验区昆明片区经开区阿拉街道办事处云大西路39号新兴产业孵化区A幢1楼103-105号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202022435337.9

主分类号：

G01B21/08

IPC分类号：

G01B21/08