一种集成电路测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成电路测试设备，包括集成电路器件本体以及其上表面边缘处设置的若干引脚，所述集成电路器件本体的上表面设置有测试基座，且测试基座下表面的开孔分别与所述集成电路器件本体上表面一侧边缘处的引脚套接匹配，所述测试基座正面靠近顶端处沿水平方向开设有槽口，且槽口的下表面位于所述引脚的正上方处开设有向下延伸的凹槽，所述测试基座槽口内设置凹槽的底面低于所述引脚的上表面；使用时，将探针放入凹槽内，即可以实现探针与引脚的定位接触，避免了因手部抖动而发生探针与引脚接触不良或探针误碰其它引脚的现象。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920708001.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-16
授权号 ：
CN209992619U
授权日 ：
2020-01-24
发明人 ：
李锦光
申请人 ：
广东全芯半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区南山路一号中集智谷4号楼C户
代理机构 ：
深圳市兴科达知识产权代理有限公司
代理人 ：
许尤庆
优先权 ：
CN201920708001.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-01-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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