本实用新型提供了一种集成电路测试设备，涉及集成电路技术领域，包括底板、除湿箱和限位组件，底板顶部设置有除湿箱，除湿箱顶部设置有保护箱，保护箱正面通过铰链转动连接有箱门，底板底部设置有多个万向轮，保护箱内部设置有集成电路测试仪，底板底部设置有限位组件，用于对万向轮进行限位。该种集成电路测试设备通过设置有限位块对万向轮进行限位，从而避免在使用集成电路测试仪时出现移动，且设置有除湿盒对保护箱内的空气进行循环除湿，从而保证集成电路测试仪储存在一个湿度适宜的环境下。