基板用双模式检查夹具及基板用检查装置
专利权的终止
摘要

一种基板用双模式检查夹具及基板用检查装置,在对包括接触式检查点和非接触式检查点的电路基板进行电气检查的情况下,通过一次工序便能完成电气检查。基板用双模式检查夹具安装在用于对形成有多条布线的电路基板的布线进行电气检查的基板用检查装置上,包括:夹具头部;以及电极安装部,其以能装卸的方式与夹具头部连接,并设置在夹具头部的与电路基板相反的一侧,且安装有电极,夹具头部具有接触式夹具头部和非接触式夹具头部。

基本信息
专利标题 :
基板用双模式检查夹具及基板用检查装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920838720.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-05
授权号 :
CN210243693U
授权日 :
2020-04-03
发明人 :
木津卓也何幼峰尹冬勤
申请人 :
日本电产理德机器装置(浙江)有限公司
申请人地址 :
浙江省嘉兴市平湖经济开发区繁荣路550号内1号楼西侧
代理机构 :
上海专利商标事务所有限公司
代理人 :
沈捷
优先权 :
CN201920838720.3
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-05-17 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 1/04
申请日 : 20190605
授权公告日 : 20200403
终止日期 : 20210605
2020-04-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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