一种半导体VREF基准值测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体VREF基准值测试设备，涉及半导体检测技术领域，为解决现有技术中的半导体参考电压的检测程序较为繁琐，需要多种仪器配合检测计算，测试效率较低的问题。所述固定底座的上方设置有控制台，所述控制台的外表面设置有数值显示屏，所述数值显示屏的一侧设置有控制按键，所述数值显示屏的另一侧设置有第一调节旋钮，所述第一调节旋钮的一侧设置有第二调节旋钮，所述第二调节旋钮的上方设置有电源开关，所述控制台的上方设置有第一检测台，所述第一检测台的一侧设置有第二检测台，所述第一检测台和第二检测台的一侧均设置有外接放电孔，所述第一检测台和第二检测台的另一侧均设置有移动轨杆，且移动轨杆有两个。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体VREF基准值测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920854871.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-05
授权号 ：
CN210136265U
授权日 ：
2020-03-10
发明人 ：
邢小亮
申请人 ：
无锡世百德微电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市南湖大道789号I幢5楼
代理机构 ：
南京禾易知识产权代理有限公司
代理人 ：
李海霞
优先权 ：
CN201920854871.8
主分类号 ：
G01R19/00
IPC分类号 ：
G01R19/00 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R19/00
用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置
法律状态
2020-03-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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