一种芯片引脚的可靠性实验测试仪
授权
摘要
本实用新型涉及电子芯片性能检测的技术领域，具体涉及一种芯片引脚的可靠性实验测试仪，包括箱体，设置于箱体内的支架、温度监测装置、为引脚供电的测电装置及为引脚施加拉力的施重组件；所述支架上设置有用于夹紧芯片的锁紧组件，所述箱体的一侧设置有箱门，所述箱体侧壁的下部设置有热风的进风管、上部设置有出风管；实现了对引脚在不同温度、不同拉力作用下的导电稳定性检测，从而可以判断引脚的质量，降低芯片的废品率。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片引脚的可靠性实验测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920890118.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-14
授权号 ：
CN210142053U
授权日 ：
2020-03-13
发明人 ：
郭现峰
申请人 ：
电光电子有限公司
申请人地址 ：
河北省石家庄市鹿泉开发区光谷科技园B-2楼五层
代理机构 ：
北京维正专利代理有限公司
代理人 ：
张岭
优先权 ：
CN201920890118.4
主分类号 ：
G01N3/18
IPC分类号 ：
G01N3/18 G01N3/02 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
法律状态
2020-03-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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