一种用于教学的光学综合测量平台

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种用于教学的光学综合测量平台，包括底座与内盘结构、光源结构以及显像结构；所述底座与内盘结构包括底座转轴机构、内转盘机构和载物台机构，所述底座转轴机构包括底座及调平旋钮(1)和中间转轴(12)，所述内转盘机构包括第二转臂内盘(13)，所述载物台机构包括可拆卸载物台(8)；所述光源结构包括可拆卸式光源(2)和第一转臂(3)；所述显像结构包括可拆卸式探头或像屏(4)和第二转臂(5)。本实用新型的平台，其采用可拆卸式激光器来模拟“X光”，光源结构发射可见光，穿过安放在底座与内盘结构上的待测样品，最后将可见光投射到显像结构，通过分析显像结构上的图像形状，从而分析出待测样品的内部结构。

基本信息

专利标题：

一种用于教学的光学综合测量平台

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920985701.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-27

授权号：

CN210803332U

授权日：

2020-06-19

发明人：

熊永红丁浩朱鸿亮陶薇

申请人：

武汉市精诺鸿科技有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市东湖新技术开发区文华园路8号文华学院大学生创新创业基地110室

代理机构：

武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

王福新

优先权：

CN201920985701.3

主分类号：

G01N23/20

IPC分类号：

G01N23/20 G09B23/22