一种金属材料检测用的晶粒度测试装置
专利权的终止
摘要
本实用新型涉及金属材料性能测试技术领域,尤其涉及一种金属材料检测用的晶粒度测试装置,包括:底座、支架、CCD图像传感器、金相显微镜、第一光源。通过选择性地开启维氏硬度测试仪上的第一光源与/或第二光源,对待测金属材料晶粒进行上与/或下表面的晶粒度检测,有利于从不同的角度来检测晶粒度,提高了精测精度及准确性;光源的发光波长可随着金属材料晶粒类型来调整,可满足不同类型的金属材料的晶粒度检测;CCD图像传感器对金属材料晶粒的自动检测,无需人工目测及手工统计,集图像采集、晶粒测量及触摸显示于一体、智能控制、操作方便快捷、测量精度高。
基本信息
专利标题 :
一种金属材料检测用的晶粒度测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921009797.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-01
授权号 :
CN210322697U
授权日 :
2020-04-14
发明人 :
王冉王建峰范文凯
申请人 :
深圳市安普检测技术服务有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区松岗街道红星社区宝安大道8728号2楼、3楼
代理机构 :
深圳市华盛智荟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
孙成
优先权 :
CN201921009797.6
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2022-06-14 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 15/02
申请日 : 20190701
授权公告日 : 20200414
终止日期 : 20210701
申请日 : 20190701
授权公告日 : 20200414
终止日期 : 20210701
2020-04-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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